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    足弓检测仪（足底三维扫描仪）如何测扁平足和高足弓

    2025-08-18

    一、基本原理

    足弓检测仪主要通过 足底三维形态扫描 + 足弓指数计算 +（可选）动态压力检测 来评估足弓情况。

    • 三维扫描：利用激光/红外/结构光，采集足底立体形态，得到足弓高度、足长、足宽等参数。

    • 指数计算：根据扫描参数，计算多个临床常用指标（如 AHI、CSI、SI），判断足弓类型。

    • 动态检测（部分设备）：结合压力板，分析步态周期中足弓的伸缩情况。


    足底三维扫描仪.jpg

    二、常见指标及其意义

    1. 足弓高度指数 (AHI, Arch Height Index)

      • 偏低 → 扁平足

      • 正常范围 → 正常足弓

      • 偏高 → 高弓足

      • 公式：足弓高度 ÷ 足长

      • 判定：

    2. Chippaux-Smirak 指数 (CSI)

      • 45% → 扁平足

      • 25%～45% → 正常足弓

      • <25% → 高弓足

      • 公式：足底中段最窄宽度 ÷ 前足最宽宽度 × 100%

      • 判定：

    3. Staheli 指数 (SI)

      • 1.15 → 扁平足

      • 0.89～1.15 → 正常足弓

      • <0.89 → 高弓足

      • 公式：足弓中段宽度 ÷ 足跟宽度

      • 判定：

    三、检测流程

    1. 静态检测

      • 受测者站立于扫描平台，保持自然直立姿势。

      • 扫描仪采集足底三维数据，自动生成足型模型。

      • 软件提取足弓高度、足弓曲率及各类指数。

    2. 动态检测（可选）

      • 受测者在带有压力感应的步态平台上自然行走。

      • 仪器采集步态周期中的足底压力分布和足弓形变。

      • 分析是否存在 隐性扁平足（静态正常，但动态时足弓塌陷）。

    四、扁平足与高弓足的检测特点

    • 扁平足

      • 足弓高度显著降低，AHI 偏低；

      • CSI、SI 明显增大（足底中段受力区变宽）；

      • 动态检测时，步态周期中足弓塌陷更明显，常伴随足内翻。

    • 高弓足

      • 足弓高度显著升高，AHI 偏高；

      • CSI、SI 数值偏低（足底中段接触面狭窄）；

      • 动态检测时，足弓弹性不足，冲击力难以分散，压力集中在前足与后跟。



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